FASMEI智能清潔度分析系統(tǒng)——高景深，高精度，快速，穩(wěn)定
系統(tǒng)描述

FASMEI 910新一代智能清潔度顆粒分析系統(tǒng)，全新分析模式，重新定義清潔度顆粒分析；

采用國(guó)際一流硬件配置，檢測(cè)速度實(shí)現(xiàn)革命性飛躍；

一次掃描技術(shù)，檢測(cè)效率提高一倍；

掃描時(shí)間<3min；

分析過程全自動(dòng)化；

一鍵分析金屬非金屬纖維顆粒；

自動(dòng)偏振光，自動(dòng)倍率識(shí)別；

軟件采用智能算法，圖像拼接更優(yōu)越，顆粒識(shí)別更準(zhǔn)確；

嚴(yán)格執(zhí)行ISO16232/VDA19.1等國(guó)際清潔度分析標(biāo)準(zhǔn)；

本系統(tǒng)最大還原顆粒污染物原色彩及顆粒數(shù)據(jù)測(cè)量準(zhǔn)確性；

軟件性能優(yōu)越，簡(jiǎn)單易用，免費(fèi)升級(jí)；

分析結(jié)果MAP圖儲(chǔ)存,數(shù)據(jù)保存指定根目錄，可任意調(diào)用及從新分析；

SQL數(shù)據(jù)庫(kù)統(tǒng)計(jì)，可任意調(diào)用歷史數(shù)據(jù)（最大金屬顆粒，顆粒數(shù)量等），并以趨勢(shì)圖表述，為產(chǎn)品工藝改進(jìn)提供數(shù)據(jù)支撐。

性能特點(diǎn)
高景深光學(xué)主機(jī)
18：1超大變倍比
檢測(cè)顆粒≥5um
自動(dòng)光源
自動(dòng)偏振光
倍率自動(dòng)設(shè)別
分析過程全自動(dòng)化
一鍵掃描分析設(shè)別金屬、非金屬、纖維顆粒
MAP全圖預(yù)覽
任意顆粒瀏覽
具備SQL分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)庫(kù)

軟件介紹
中英文操作界面
自動(dòng)掃描，無縫拼圖技術(shù)
一鍵掃描分析，一鍵出報(bào)告
內(nèi)置ISO16232/VDA19/CATL/ISO4406清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
用戶可自定義分析標(biāo)準(zhǔn)
軟件支持現(xiàn)行多種標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析
自動(dòng)檢測(cè)分辨出微粒類型（金屬、非金屬、纖維）
評(píng)價(jià)參數(shù)（長(zhǎng)度、寬度、面積、纖維最大長(zhǎng)度）
按照標(biāo)準(zhǔn)ISO 16232 /VDA19計(jì)算工件清潔度代碼(CCC)
有效微粒處理（例如重疊微粒）,掃描結(jié)果可手動(dòng)修改
可切分或關(guān)聯(lián)任意形狀的顆粒
可實(shí)現(xiàn)每個(gè)顆粒定位回看

技術(shù)參數(shù)
檢測(cè)顆?！?um
RSD≤2%
Particle calibration≤2pixle
18：1超大變倍比光學(xué)主機(jī)
長(zhǎng)景深復(fù)消色差系統(tǒng)
掃描時(shí)間<3min
高還原性彩色相機(jī)，SONY芯片
超高精度全自動(dòng)掃描臺(tái) 自動(dòng)偏振LED光源
自校顆粒標(biāo)準(zhǔn)塊
一鍵掃描分析設(shè)別金屬、非金屬、纖維顆粒
分析結(jié)果MAP圖儲(chǔ)存,數(shù)據(jù)保存指定根目錄，可任意調(diào)用及重新分析
配置濾膜夾專用托架，兼容標(biāo)準(zhǔn)濾膜夾及濾膜載物片
軟件智能算法，實(shí)現(xiàn)真正意義上圖像無縫拼接
可選配掃碼槍及MES系統(tǒng)
可升級(jí)四工位掃描

配件
濾膜載物片：50/47mm濾膜通用，可永久保存測(cè)試濾膜
測(cè)試濾膜：0.45um/0.8um/5um/10um/20um/40um/100um
落塵測(cè)試膜：實(shí)驗(yàn)室，車間落塵測(cè)試用
落塵測(cè)試架：SUS304
儀器防塵箱